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試驗(yàn)箱HAST與PCT之間的區(qū)別

發(fā)布時間: 2024-10-21  點(diǎn)擊次數(shù): 27次

試驗(yàn)箱HAST與PCT之間的區(qū)別

 

HAST(Highly Accelerated Stress Test,高加速應(yīng)力試驗(yàn))和 PCT(Pressure Cooker Test,高壓鍋試驗(yàn))是兩種常見的可靠性測試方法,它們存在以下區(qū)別:

一、試驗(yàn)原理

HAST

HAST 是通過同時施加高溫、高濕和高壓環(huán)境來加速產(chǎn)品內(nèi)部可能發(fā)生的物理和化學(xué)反應(yīng),以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問題。它模擬的是產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下長期使用可能出現(xiàn)的失效模式,環(huán)境條件更為嚴(yán)峻。

例如,在半導(dǎo)體封裝測試中,HAST 可以使水汽更快地滲透到封裝內(nèi)部,檢測封裝的防潮性能和內(nèi)部連接的可靠性。

PCT

PCT 主要側(cè)重于在高溫和高濕且處于一定壓力的環(huán)境下對產(chǎn)品進(jìn)行測試。它利用了在壓力環(huán)境下,水的沸點(diǎn)升高的原理,使產(chǎn)品在高于正常沸點(diǎn)的溫度和濕度環(huán)境下接受考驗(yàn)。

例如,對于電子元器件,PCT 可以模擬其在潮濕、高溫環(huán)境下(如熱帶地區(qū)戶外設(shè)備內(nèi)的環(huán)境)的使用情況,觀察其是否會因濕氣侵入而產(chǎn)生短路等故障。

二、試驗(yàn)條件

溫度范圍

HAST:通常溫度范圍可以達(dá)到 105 - 130℃甚至更高,這比 PCT 的溫度更高。

PCT:一般溫度在 100 - 121℃之間。

濕度范圍

HAST:濕度通常接近 100% RH,并且在高溫高壓環(huán)境下,水汽對產(chǎn)品的滲透作用更強(qiáng)。

PCT:濕度也是接近飽和狀態(tài),但由于溫度和壓力條件相對溫和一些,水汽滲透的劇烈程度略低于 HAST。

壓力范圍

HAST:壓力可以達(dá)到 2 - 3 個大氣壓甚至更高,以進(jìn)一步加速水汽的滲透和化學(xué)反應(yīng)。

PCT:壓力一般在 1.2 - 2 個大氣壓左右,壓力環(huán)境相對較溫和。

三、應(yīng)用領(lǐng)域

HAST

主要應(yīng)用于對可靠性要求高的產(chǎn)品,特別是在半導(dǎo)體、航空航天電子設(shè)備等領(lǐng)域。這些產(chǎn)品一旦在實(shí)際使用中出現(xiàn)故障,修復(fù)成本高,所以需要通過更嚴(yán)格的 HAST 來確保其可靠性。

例如,在航天級芯片的生產(chǎn)中,HAST 是必要的測試環(huán)節(jié),用于檢測芯片在極-端環(huán)境下的性能穩(wěn)定性。

PCT

廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子產(chǎn)品、一般工業(yè)電子設(shè)備等領(lǐng)域。這些產(chǎn)品的使用環(huán)境相對沒有那么惡劣,但也需要一定的可靠性保障。

比如,普通的手機(jī)主板、家用電器控制板等會采用 PCT 進(jìn)行初步的可靠性測試,確保產(chǎn)品在正常使用壽命內(nèi)不會因潮濕和高溫而輕易失效。













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