高加速應(yīng)力試驗(yàn)箱-濕熱加速箱 HAST 試驗(yàn)?zāi)軌蛟诙虝r(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間使用后的狀態(tài)，快速地使產(chǎn)品老化，加速激發(fā)產(chǎn)品潛在的缺陷和故障，從而有效篩選出早期失效的產(chǎn)品，讓制造商能在產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)階段盡早發(fā)現(xiàn)問題，如電子元器件的封裝缺陷、材料的不耐濕熱特性等，以便提前采取措施加以改進(jìn)，提高產(chǎn)品的可靠性

HAST加速老化試驗(yàn)箱 電子元器件：如集成電路、半導(dǎo)體元件、電容器、電阻器等，通過 HAST 試驗(yàn)可以評(píng)估其在高溫高濕及壓力條件下的密封性能、防潮性能以及老化性能，快速暴露潛在的可靠性問題，如封裝不良、材料老化等，確保其在實(shí)際使用中的穩(wěn)定性和可靠性

PCT 高壓加速老化試驗(yàn)箱 氣壓濕度款 具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對(duì)于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸，使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)，改進(jìn)，鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。

高壓加速老化試驗(yàn)機(jī) HT-HAST-80L 該設(shè)備主要是測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)， 主要用于對(duì) 電工、電子產(chǎn)品，元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理 以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試后，通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求，以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、 檢定及出廠檢驗(yàn)使用。密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速